對幹式電解拋光工藝的表征

在GPAINNOVA，S neox Five Axis專(zhuan) 門用於(yu) 量化拋光工藝的質量，並說明使用DLyte拋光後樣品粗糙度降低的情況

GPAINNOVA正在對製造團隊得以生產(chan) 高質量金屬表麵的方法進行改造。DLyte係列機器基於(yu) Drylyte**技術：這是第一個(ge) 幹式電解拋光工藝，為(wei) 業(ye) 內(nei) 的金屬合金表麵修整提供了解決(jue) 方案。應用範圍從(cong) 美觀部件打磨、倒圓、去毛刺到表麵修勻和高光澤拋光。Sensofar的S neox Five Axis使我們(men) 能夠采用現有表麵修整解決(jue) 方案達到最高質量。

在GPAINNOVA，Sensofar S neox Five Axis專(zhuan) 門用於(yu) 量化拋光工藝，並說明使用DLyte拋光後樣品粗糙度降低的情況。樣品可能各有不同，下至非常粗糙的增材製造零件，上至鏡麵表麵，而Sensofar係統包括多焦麵疊加、共聚焦和幹涉測量技術等多種功能，因此所有樣品都可以使用Sensofar係統進行測量。
下文所述為(wei) DLyte功能的一個(ge) 簡短示例。可以看到DLyte拋光前後由CoCr製成的股骨組件。

在Sensofar係統之前，我們(men) 使用接觸式觸針輪廓儀(yi) ，獲取的參數隻有輪廓參數（Ra、Rz、Rq等）。盡管Ra是常用的參數，但它並未提供有關(guan) 表麵空間結構的任何信息。但是從(cong) 現在起，借助Sensofar計量技術，可以測量Sa（Ra向表麵的延伸）等表麵參數。Sa的測量考慮樣品表麵粗糙度，可以比Ra更好地表征表麵。測量某個(ge) 區域的主要優(you) 點是有可能掃描更大的區域，並生成適合作為(wei) 樣品概觀的數毫米大小的表麵，從(cong) 而獲得更可靠的數值。3D區域表麵參數按照ISO 25178標準計算（對表麵紋理基礎的重新定義(yi) ），包含以下參數：Sa、Sq、Ssk、Sku、Sp、Sv和Sz。

通過幹涉測量技術，采用50x DI物鏡獲得以下測量結果。幹涉測量技術使我們(men) 能夠測量和上文所述股骨組件樣品一樣的鏡麵表麵。

S neox Five Axis不僅(jin) 可用於(yu) 表征拋光工藝後表麵粗糙度降低的情況，還可用於(yu) 證明借助Drylyte技術保持了拋光零件的公差。下文所示為(wei) 加工零件的外形和形狀測量示例，該案例使用了多焦麵疊加技術。

可以看出，由於(yu) 采用幹涉測量法拍攝黑白圖像和彩色地圖圖像，采用DLyte工藝之後，用低於(yu) 0.05 µm的Sa參數定量的樣品表麵粗糙度降低。

此外，通過使用Ai多焦麵疊加技術的互補形狀測量，證明了形狀得到保留。S neox Five Axis是一種多功能計量工具，滿足我們(men) 的測量需求，從(cong) 現在起將成為(wei) DLyte實驗室的得力工具。