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Sensofar共聚焦白光幹涉儀|測量原理

更新時間:2024-05-23點擊次數:682

Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |測量原理

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增強型光學測量技術

Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) 雖然一開始作為(wei) 高性能 3D 米兰竞猜足球官网首页設計,但是我們(men) 的某些係統所有現有的米兰竞猜足球官网首页,集所有技術於(yu) 一身。

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Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) 條紋投影非常適合大麵積測量,垂直 精度和可重複性高,係統噪聲低。







    

產品陣容

技術組合

我們(men) 的Sensofar共聚焦白光儀(yi) 係統采用不同光學測量技術進行工作,一部分係統采用組合技術。聚集這些技術的優(you) 點,外加技術和操作軟件,成就市場上競爭(zheng) 力的高級測量設備。


為何使用四合一技術?

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采用 Sensofar 的四合一法 – 正如 S neox 係統那樣 – 在軟件中單擊一次就可將係統切換到適合當前任務的技術

S neox 傳(chuan) 感器頭采用 4 種測量技術 – Ai 多焦麵疊加、共聚焦、幹涉 & 光譜反射 – 因此每種技術都是實現係統通用性的重要因素,有利於(yu) 減少數據采集時不希望發生的缺陷,同時提供 Sensofar 的表麵測量性能。











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技術

微顯示是關鍵!

Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) 的係統采用微顯示掃描技術。

微顯示以矽基鐵電體(ti) 液晶 (FLCoS) 技術為(wei) 基礎,打造沒有運動零件的快速切換裝置,

使共聚焦圖像掃描快速、可靠、精確。微顯示器結合高分辨率掃描台和可更換物鏡,

構成了一套靈活的光學係統。


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