Sensofar 副總裁參與製定新的 ISO 25178 標準

Artigas 博士正全身心地投入在新ISO 25178 標準：產(chan) 品幾何量技術規範（GPS）——表麵結構：區域的製定工作中。ISO 25178將是將3D 表麵測量方法的規範和測量納入考量的國際標準，並將包含目前適用於(yu) 非接觸式測量方法且行業(ye) 常用的標準，而之前的標準在ISO 9000質量體(ti) 係框架中至今一直缺少支持質量審查的標準。

新標準包含七個(ge) 章節，由NIST（美國國家標準技術研究所）、NPL（英國國家物理實驗室）和PTB（德國聯邦物理技術研究院）等眾(zhong) 多科學機構編寫(xie) 製定。

ISO 25178 標準包括有關(guan) 3D 測量的基本定義(yi) 以及可根據不同現有技術的分類計算的主要參數。第6 章的主要內(nei) 容是普遍用於(yu) 測量表麵的方法和技術的分類，其中Artigas 博士具體(ti) 描述了成像共聚焦顯微鏡（ICM）的方法。