光學測量係統在表麵測量和坐標測量中有著廣泛的應用。這些係統速度快，分辨率高，可在非接觸和非破壞性模式下操作；這些方麵對於(yu) 未來的工廠至關(guan) 重要。然而，光學測量往往是不可追溯的，由於(yu) 被測對象和測量係統之間的相互作用的複雜性。該項目旨在改善測量基礎設施，以實現可追溯的工業(ye) 三維粗糙度測量以及形狀和尺寸，並為(wei) 最終用戶提供指導，從(cong) 而支持尺寸測量在工業(ye) 中的成功實施。

Sen far 旨在利用他在光學計量學方麵的豐(feng) 富經驗和他在工業(ye) 市場的深厚知識，通過以下方式為(wei) 這個(ge) 項目做出貢獻：

向聯合會(hui) 表達對粗糙度、波紋度、形狀或尺寸光學測量的需求
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提供測試測量的 S neox 係統使用共 聚焦 ， 人工智能焦點變化 和 幹涉 技術給協會(hui)
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在 ISO 25178 標準化工作