Sensofar 三維共聚焦幹涉顯微鏡S neox實際應用案例

Sensofar三維共聚焦幹涉顯微鏡S neox是一款綜合性多功能三維形貌測量儀(yi) 器，可以滿足用戶對三維表麵測量的複雜要求——在多重聚焦模式下，可實現極為(wei) 粗糙表麵的三維測量，適用於(yu) 毫米級粗糙表麵的三維測量；在共聚焦模式下，橫向分辨率高達140nm，可觀察超越常規光學顯微鏡分辨率極限的細密組織，適用於(yu) 微米級粗糙表麵的三維測量；幹涉測量模式下，可在低倍和高倍下，同時實現高達0.1nm的高精度縱向分辨率，適用於(yu) 亞(ya) 微米及納米級粗糙表麵的三維測量；一機多用，可最大限度發揮產(chan) 品的性能，節省時間和投資成本。

   Sensofar三維共聚焦幹涉顯微鏡S neox實際應用範圍非常廣，可廣泛適用於(yu) 汽車零部件、微電子、太陽能電池、印刷、航空、光學鏡片、公安刑偵(zhen) 、激光加工、摩擦學、材料性能測試、考古、醫療器械、地質、紙張等諸多領域，簡單分享幾個(ge) 實測案例如下：