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技術文章
TECHNICAL ARTICLESSensofar CSI (白光幹涉) 是如何運作的?
Sensofar 幹涉
為(wei) 了測量超光滑的表麵及中等粗糙表麵的表麵高度,通過幹涉技術,可在任何放大倍率下實現相同的係統噪聲,它可實現優(you) 於(yu) 0.01 nm 的係統噪聲。
幹涉工作原理
幹涉技術的工作原理是:將光分成光學傳(chuan) 播路徑不同的兩(liang) 個(ge) 光束,然後再合並,從(cong) 而產(chan) 生幹涉。幹涉物鏡允許顯微鏡作為(wei) 幹涉儀(yi) 而工作;焦點對準後,可在樣本上觀察到條紋。
CSI (白光幹涉)使用白光掃描光滑到中等粗糙表麵的表麵高度,任何放大倍率下均達到 1 nm 的高度分辨率。
采用幹涉法,3D 測量能以高精度進行。可沿 Z 軸掃描,在整個(ge) 樣本上獲得條紋,用獲取的不同像素的高度重新構建 3D 圖像。