S wide大麵積3D光學測量係統的應用和優點

更新時間：2025-02-17

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新世代的大範圍計量工具

S wide 是專(zhuan) 用係統，適用於(yu) 快速測量大樣品區域，測量麵積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測量儀(yi) 器的所有優(you) 點。一鍵式采集功能，易於(yu) 使用。

解決(jue) 方案

大麵積3D光學測量係統

先進製造業(ye)

考古學與(yu) 古生物學

消費類電子產(chan) 品

醫療設備

模塑

光學

鍾表業(ye)

關(guan) 鍵特性

整個(ge) 拚接擴展區域都擁有亞(ya) 微米高度重複性。

無需Z軸掃描即可測量最高40mm的單次測量高度。

具有極低場失真的雙側(ce) 遠心鏡頭，提供精確的測量。

與(yu) 3D CAD模型的形狀偏差提供幾何差異和公差測量

可追溯性

表麵紋理測量儀(yi) 器的校準

我們(men) 的所有係統精心製造，提供準確、可追溯的測量。係統按照符合ISO 25178第 7 部分關(guan) 於(yu) 下列參數的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大係數、XY 橫向尺寸、平麵度誤差以及偏心度。

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