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共探國產電鏡未來┃澤攸科技亮相2023全國電子顯微學學術年會

更新時間:2024-05-23點擊次數:437

共探國產(chan) 電鏡未來┃澤攸科技亮相2023全國電子顯微學學術年會(hui)

10月26日至30日,2023年全國電子顯微學學術年會(hui) 在東(dong) 莞市盛大召開。本屆大會(hui) 以“顯微鴻鵠誌,世界一片天——懷念郭可信先生"為(wei) 主題,紀念中國電子顯微學郭可信先生誕辰100周年。

10月26日至30日,2023年全國電子顯微學學術年會(hui) 在東(dong) 莞市盛大召開。本屆大會(hui) 以“顯微鴻鵠誌,世界一片天——懷念郭可信先生"為(wei) 主題,紀念中國電子顯微學郭可信先生誕辰100周年。來自全國各地的高校院所、企事業(ye) 單位、儀(yi) 器技術企業(ye) 等電子顯微學領域專(zhuan) 家學者2000餘(yu) 人出席了本次盛會(hui) 。

大會(hui) 開幕式由大會(hui) 秘書(shu) 長、北京大學教授高寧主持,大會(hui) 主席、中國科學院院士張澤,大會(hui) 承辦單位南方科技大學副校長、中國科學院院士賈金鋒,大會(hui) 組委會(hui) 主席、電鏡學會(hui) 理事長韓曉東(dong) 分別致辭。

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大會(hui) 設置了多個(ge) 分會(hui) 場,內(nei) 容涵蓋顯微學理論、技術和儀(yi) 器發展,以及功能材料微結構表征等前沿領域。多家國內(nei) 外高新技術企業(ye) 應邀出席會(hui) 議,其中,澤攸科技攜最新研發的台式掃描電鏡ZEM20亮相展示,受到與(yu) 會(hui) 代表的熱烈關(guan) 注。

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展會(hui) 期間,澤攸科技研發工程師在展位上向參展的專(zhuan) 家和學者介紹了ZEM係列台式掃描電鏡的創新之處及應用場景,獲得廣泛好評。ZEM係列電鏡在分辨率、成像速度、自動化程度等方麵都有顯著提升,可廣泛應用於(yu) 材料、生命科學等領域的表麵形貌及組分分析。此外,ZEM係列電鏡還可選擇配置能譜分析儀(yi) ,實現對樣品元素、結構等信息的快速、精確檢測。

本次學術年會(hui) 展示了國內(nei) 電子顯微學領域的潛力,其中國產(chan) 電鏡及其配件企業(ye) 的數量和規模不斷壯大,這表明中國電子顯微學儀(yi) 器的自主創新能力不斷提升,國產(chan) 電鏡有望取代進口產(chan) 品,逐步走到行業(ye) 前台。澤攸科技作為(wei) 國內(nei) 少數能夠實現科研儀(yi) 器反向輸出的企業(ye) 之一,象征著國產(chan) 電鏡製造業(ye) 的崛起,同時也顯示出中國在電子顯微學領域的雄心壯誌。未來,澤攸科技將繼續致力於(yu) 電子顯微學領域的發展,為(wei) 中國的科研事業(ye) 和產(chan) 業(ye) 進步貢獻更多力量。



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