在材料科學、機械工程以及半導體製造等領域，表麵粗糙度是衡量產品質量和性能的重要指標之一。而Sensofar白光幹涉儀，憑借其高精度、非接觸式以及實時測量的優勢，成為了測量表麵粗糙度的理想選擇。
1.高精度測量，洞察微觀世界
Sensofar白光幹涉儀通過測量物體表麵反射光線的相位差，能夠精確計算出表麵的粗糙度參數，如均方根粗糙度（RMS）等。其工作原理是將一束白光分成兩束，經過不同路徑後再匯聚形成幹涉條紋。這些幹涉條紋的間距和形態直接反映了表麵的形狀和粗糙度，通過對幹涉條紋的精細分析，它能夠實現微米級甚至納米級的高精度測量。
2.非接觸測量，保護樣品完整性
與傳統的接觸式測量工具不同，該儀器采用非接觸式測量方式，不會對被測樣品造成任何損傷或汙染。這一特點在測量精密元件或易損材料時尤為重要，確保了測量結果的準確性和樣品的完整性。
3.實時測量，提升工作效率
在快節奏的生產和研發環境中，快速獲取準確的測量數據至關重要。Sensofar白光幹涉儀具備實時測量功能，能夠在短時間內完成大麵積或複雜表麵的粗糙度測量，大大提高了工作效率。同時，其直觀的操作界麵和強大的數據處理能力，使得用戶能夠輕鬆完成測量設置、數據采集和結果分析。
4.廣泛應用，滿足多樣需求
該儀器不僅適用於各種材料的表麵粗糙度測量，還能夠測量平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。在半導體製造領域，它被廣泛用於表征關鍵尺寸、材料粗糙度以及進行缺陷檢測等；在微納米製造領域，它則為製造高精度、高質量的微納米器件提供了重要的技術支持。
綜上所述，Sensofar白光幹涉儀以其高精度、非接觸式、實時測量以及廣泛的應用範圍等優勢，成為了測量表麵粗糙度的首要選擇工具。在未來的發展中，隨著技術的不斷進步和應用領域的不斷擴展，Sensofar白光幹涉儀將繼續發揮重要作用，為各行各業提供更加精準、高效的測量解決方案。
當前位置：
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
更新時間：2024-07-21
點擊次數：276