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三維共聚焦白光幹涉輪廓儀:精準測量表麵形貌的工具

更新時間:2024-12-17點擊次數:147
  在材料科學、機械工程及光學加工等領域,表麵形貌的測量至關重要。它不僅關乎產品的質量和性能,更是研發創新中至關重要的一環。而三維共聚焦白光幹涉輪廓儀,憑借其高精度、非接觸式的測量優勢,已成為表麵形貌測量的首要選擇工具。
  三維共聚焦白光幹涉輪廓儀,也被稱為白光幹涉儀,其測量原理基於白光幹涉技術。通過發射一束寬光譜的白光,並將其照射到被測物體表麵,然後收集被物體反射的光線,形成一係列幹涉條紋。這些幹涉條紋的形態和分布與物體表麵的高度和形狀密切相關。通過分析這些幹涉條紋,儀器能夠精確計算出物體表麵的三維尺寸信息,實現表麵形貌的高精度測量。
  在實際應用中,產品展現出了其特殊的優勢。
  1.其測量精度較高,能夠達到亞納米級別,滿足納米或亞納米級別超高精度加工領域的檢測需求。
  2.作為一種非接觸式測量技術,它不會對樣品表麵造成任何損傷,尤其適用於易損或敏感材料的測量。
  3.儀器測量速度快,能夠快速獲取表麵形貌數據,為快速檢測和質量控製提供了有力支持。
  除了高精度和快速測量外,它還具有廣泛的測量範圍。它能夠測量從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表麵,適用於不同材料和不同表麵特性的測量。同時,儀器配備有專門的軟件,能夠以三維立體、二維平麵以及斷麵分布曲線方式顯示實時測量結果,並對測量結果作進一步的修正處理,為材料表麵質量提供全麵的評估。
  產品圖片展示

 

  綜上所述,三維共聚焦白光幹涉輪廓儀憑借其高精度、非接觸式測量、快速測量及廣泛的測量範圍等優勢,已成為表麵形貌測量的重要工具。在材料科學、機械工程及光學加工等領域,它發揮著不可替代的作用,為產品的研發、生產及質量控製提供了有力保障。
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