澤攸ZEM20台式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅(jin) 需鼠標即可完成所有操作，一體(ti) 式聚光鏡，無需手動調節光闌。

ZEM20台式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅(jin) 需鼠標即可完成所有操作，一體(ti) 式聚光鏡，無需手動調節光闌。

ZEM 20Pro單晶燈絲(si) 台式掃描電鏡采用單晶燈絲(si) ，最高放大36萬(wan) 倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拚接。超大樣品倉(cang) 可集成多種原位拓展平台，滿足不同實驗及檢測需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體(ti) 測量係統，是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元，通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量，並可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體(ti) 結構、化學組分、元素價(jia) 態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與(yu) 應用領域。

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量係統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量係統，是在標配MEMS芯片樣品杆上集成低溫控製模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。