澤攸透射電鏡原位MEMS液體(ti) 電化學測量係統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體(ti) 。實驗中，樣品被密封在很薄氮化矽薄膜覆蓋的液體(ti) 池內(nei) ，池內(nei) 可以承載一個(ge) 大氣壓。芯片電極聯通外接電路，從(cong) 而在電鏡中搭建一個(ge) 液體(ti) -電化學測試環境。

澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量係統，在透射電子顯微鏡中製造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量係統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸STM-TEM力電一體(ti) 測量係統 是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸STM-TEM光電一體(ti) 測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體(ti) 測量係統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量