澤攸透射電鏡原位高溫力學測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量。

澤攸MEMS-STM-TEM多場測量係統，原位透射電子顯微鏡實驗係統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個(ge) 可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。

澤攸幹式液氦溫區探針台 LHe-6H-06產(chan) 品特點，真空腔體(ti) ：真空度優(you) 於(yu) 610-4 Pa。降溫後優(you) 於(yu) 610-5 Pa。留有2個(ge) 用戶法蘭(lan) 接口（KF40可接入氣體(ti) 或者額外的電纜）。

澤攸室溫自動探針台 TZ-H-06，高可靠性探針台係統，主要應用在半導體(ti) /微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研究領域，以及IC設計/製造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chan) 製造領域。

澤攸液氦低溫恒溫器低溫係統超低震動幹式液氦光學低溫恒溫器係統，使用氣體(ti) 導熱隔震，實現樣品台納米級的機械穩定性。為(wei) 有效降低環境震動影響，產(chan) 品設計安裝在光學隔震平台上。

澤攸手動探針台係統，可定製手動探針台係統，整套係統包配置有探針台主體(ti) 、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。