半自動台階儀(yi) JS100B 國產(chan) 半自動台階儀(yi) JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體(ti) 花崗岩結構，提供穩定可靠的重複性測量。JS100B提供兩(liang) 個(ge) 彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區，方便定位特征區域，同時探針掃描時可實時觀察掃描區域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

SEM冷凍真空傳(chuan) 輸係統高匹配360°(無限)旋轉冷台，冷台傾(qing) 轉角度55°，冷台溫度≤180℃。

SEM熱電芯片台可搭配電學測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品杆。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量係統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體(ti) 取向耦合等多場耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體(ti) 化係統，集成了掃描探針控製單元，可在三維空間內(nei) 對電學探針與(yu) 光纖探針進行亞(ya) 納米級別精度的操縱與(yu) 定位。