PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸台集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊，可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產(chan) 品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱台直接貼緊樣品，保證了溫度的準確度和穩定性。

掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量係統將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品台上，在掃描電鏡中製造可控的氣氛環境並且可以對實驗樣品原位加熱。

PicoFemto掃描電鏡原位液體(ti) -電化學測量係統采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體(ti) 解決(jue) 方案裝樣困難的問題。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體(ti) 電化學測量係統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體(ti) 。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量係統，在透射電子顯微鏡中製造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量係統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元，通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量，並可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體(ti) 結構、化學組分、元素價(jia) 態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與(yu) 應用領域。