Sensofar平麵度測量白光幹涉儀

Sensofar平麵度測量白光幹涉儀(yi) S neox 0.65X，以優(you) 秀的橫向和縱向分辨率測量平麵度。Sensofar平麵度測量白光幹涉儀(yi) 搭配0.65X物鏡，具有很大視野的物鏡和較高精度的載物台，在平麵度、平行度和台階高度測量方麵提供了較佳的表現。

以優(you) 秀的橫向 和縱向分辨率 測量平麵度

S neox 持續成為(wei) 多功能性的先驅;這次帶來了具有最大視野的物鏡放大倍率和最高精度的載物台，在平麵度、平行度和台階高度量測方麵提供了最佳表現。

Sensofar 0.65X Michelson

Sensofar自己設計的0.65X邁克爾遜 物鏡旨在實現一個(ge) 目的：以快速準確 的方式測量平麵度。密集采樣、大視 野和幹涉測量的結合確保了所預期的效果。

高精度 XY 平台

當平麵度要求*高時，高性能XY平台 是關(guan) 鍵要素。平台配備非接觸式光學 線性編碼器，可直接測量平台上的位 置，並具有最高的精度。

應用：

半導體(ti) 、印刷電路板、 微流體(ti) 、航空航天、汽車、 顯示器、光學、手表製造。

米兰今天足球比赛是一家專(zhuan) 門從(cong) 事三維表麵分析、顯微分析、理化實驗室儀(yi) 器及相關(guan) 技術服務的專(zhuan) 業(ye) 科學儀(yi) 器供應商。公司致力於(yu) 為(wei) 科研和工業(ye) 製造業(ye) 客戶提供專(zhuan) 業(ye) 的顯微表麵分析儀(yi) 器和理化分析儀(yi) 器。主營經營產(chan) 品包括各品牌的光學顯微鏡、體(ti) 式顯微鏡、偏光顯微鏡、半導體(ti) 檢查顯微鏡、熱台顯微鏡、超景深顯微鏡、共聚焦顯微鏡、三維形貌儀(yi) 、清潔度分析係統、掃描電鏡、高速攝像機、金相製樣設備等各類理化分析儀(yi) 器。提供製樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應用檢測等全套的材料分析解決(jue) 方案。