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台式電鏡&台階儀(yi) &原位分析
澤攸台式掃描電鏡
ZEM18台式掃描電子顯微鏡
ZEM18台式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個(ge) 細節。
產(chan) 品分類
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ZEM18台式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個(ge) 細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品台(拉伸台、加熱台、TEC冷台等原位測試係統)。
ZEM18台式掃描電子顯微鏡參數:
環境要求:AC 220V,50Hz,1kW,無需減震台
加速電壓:3kV~18kV連續可調,1kV步進
電子槍:預對中鎢燈絲(si) ,一體(ti) 式聚光鏡,無需手動調節物鏡光闌
放大倍數:500 --150000倍
探測器:二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(yi)
樣品台行程:XY 兩(liang) 軸電動 行程:30 mm×30 mm
樣品尺寸:Φ50×35(H)mm
工作距離:5-35mm
真空模式
高真空模式:抽真空時間小於(yu) 90s
低真空模式:選配,低真空1-100Pa自動控製
成像模式
視頻模式:512x 512像素,無需小窗口掃描;
快速模式:掃描時間小於(yu) 3秒,512 x 512像素;
慢掃模式:掃描時間小於(yu) 40秒,2048 × 2048像素;
圖像格式:BMP, TIFF,JPEG,PNG
導航功能:光學CCD導航
自動功能:一鍵自動配置亮度、對比度、聚焦
尺寸:主機283×553×505 mm 機械泵340×160×140 mm
拓展功能:兼容澤攸科技多種原位功能樣品台(拉伸台、加熱台、TEC冷台等原位測試係統)
產(chan) 品特色
操作簡便: 僅(jin) 需鼠標即可完成所有操作,一體(ti) 式聚光鏡,無需手動調節光闌
成像快速: 抽真空時間小於(yu) 90s,
顯示流暢: 信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個(ge) 細節
信號多樣: 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(yi) 等多種探測器。(SE+BSE模式:同時采集,任意疊加)
性能突出:加速電壓連續可調,選配低真空模式,適應多種類型樣品和原位測試功能
體(ti) 積小巧:無需特裝設備間和額外減震台,常規市電即插即用
原位拓展:豐(feng) 富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品台、加熱台、TEC冷台等)
售後無憂: 國內(nei) 自主研發,提供完備的高性價(jia) 比售後服務。廠家在北京、上海、安徽、東(dong) 莞等多個(ge) 辦事處提供樣機demo服務。
產(chan) 品附件:
(1)拉伸台
技術參數:
(2)TEC冷台
技術參數:
1、溫度範圍:-60℃--50℃
2、功率:~45W
3、控溫精度:±0.01℃
4、高精度溫控儀(yi) ,搭配相應軟件,數據可一鍵導出
應用案例:
原材料檢測 工業(ye) 檢測
電子元器件檢測 其他樣檢測