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ZEM18台式掃描電子顯微鏡

產品簡介

ZEM18台式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個(ge) 細節。

產品型號:
更新時間:2025-03-24
廠商性質:代理商
訪問量:1493
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ZEM18台式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個(ge) 細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品台(拉伸台、加熱台、TEC冷台等原位測試係統)。

ZEM18台式掃描電子顯微鏡參數:

環境要求:AC 220V,50Hz,1kW,無需減震台

加速電壓:3kV~18kV連續可調,1kV步進

電子槍:預對中鎢燈絲(si) ,一體(ti) 式聚光鏡,無需手動調節物鏡光闌

放大倍數:500 --150000倍

探測器:二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(yi)

樣品台行程:XY 兩(liang) 軸電動 行程:30 mm×30 mm

樣品尺寸:Φ50×35(H)mm

工作距離:5-35mm

真空模式

高真空模式:抽真空時間小於(yu) 90s

低真空模式:選配,低真空1-100Pa自動控製

成像模式

視頻模式:512x 512像素,無需小窗口掃描;

快速模式:掃描時間小於(yu) 3秒,512 x 512像素;

慢掃模式:掃描時間小於(yu) 40秒,2048 × 2048像素;

圖像格式:BMP, TIFF,JPEG,PNG

導航功能:光學CCD導航

自動功能:一鍵自動配置亮度、對比度、聚焦

尺寸:主機283×553×505 mm  機械泵340×160×140 mm

拓展功能:兼容澤攸科技多種原位功能樣品台(拉伸台、加熱台、TEC冷台等原位測試係統)

產(chan) 品特色

操作簡便: 僅(jin) 需鼠標即可完成所有操作,一體(ti) 式聚光鏡,無需手動調節光闌

成像快速: 抽真空時間小於(yu) 90s,

顯示流暢: 信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個(ge) 細節

信號多樣: 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(yi) 等多種探測器。(SE+BSE模式:同時采集,任意疊加)

性能突出:加速電壓連續可調,選配低真空模式,適應多種類型樣品和原位測試功能

體(ti) 積小巧:無需特裝設備間和額外減震台,常規市電即插即用

原位拓展:豐(feng) 富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品台、加熱台、TEC冷台等)

售後無憂: 國內(nei) 自主研發,提供完備的高性價(jia) 比售後服務。廠家在北京、上海、安徽、東(dong) 莞等多個(ge) 辦事處提供樣機demo服務。

產(chan) 品附件:

(1)拉伸台

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技術參數:

(2)TEC冷台

ZEM18台式掃描電子顯微鏡ZEM18台式掃描電子顯微鏡

技術參數:

1、溫度範圍:-60℃--50℃

2、功率:~45W

3、控溫精度:±0.01℃

4、高精度溫控儀(yi) ,搭配相應軟件,數據可一鍵導出


應用案例:

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原材料檢測                                                   工業(ye) 檢測

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電子元器件檢測                                        其他樣檢測


 

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