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米兰竞猜足球台式電鏡&台階儀(yi) &原位分析澤攸SEM原位解決(jue) 方案PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量係統
產品簡介
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量係統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體(ti) 取向耦合等多場耦合研究。
產(chan) 品分類
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PicoFemto NI-100 SEM納米力測量將納米壓痕儀(yi) 集成進掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進行原位納米壓痕研究。該係統由一個(ge) 三維壓電驅動的樣品台和一個(ge) 納米力測量探針組成。樣品安裝方式靈活多樣，可在三維納米位移台的驅動下，達到超過5 mm的準確定位，定位分辨率優(you) 於(yu) 100 nm，以使待測量區域準確對準力探針。
力探針同樣由壓電驅動，在軸向達到100 um的伸縮長度，位移分辨率優(you) 於(yu) 0.25mm。由力傳(chuan) 感器準確測量所施加的力的載荷，可測拉力和壓力。並有不同的大量程的力傳(chuan) 感器可選配，達到很好的測量效果。通過搭配電學、光學、加熱等模塊，PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量係統還可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體(ti) 取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量係統基本技術參數表
部分國內(nei) 用戶
部分國外用戶
