奧林巴斯測量顯微鏡STM7

奧林巴斯測量顯微鏡STM7具有多功能性，可以提供高性能的、三軸亞(ya) 微米級精度的零件、電子元件的測量。無論樣品大或小，簡單或複雜，初學者或使用熟練者進行測量，奧林巴斯STM7係列，可以配置滿足您需要的測量顯微鏡。

奧林巴斯測量顯微鏡STM7具有優(you) 良的多用途性，能夠以亞(ya) 微米精度實現對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。無論待測樣品是大的還是小的，測量內(nei) 容是簡單的還是複雜的，測量人員是新手還是專(zhuan) 家，奧林巴斯STM7係列就是能滿足您需求、為(wei) 您量身打造的測量顯微鏡產(chan) 品。

STM7 通過整合光學顯微鏡和測量能力實現精確測量

多年的顯微鏡開發經驗成就了優(you) 異的觀察性能

STM7係列采用了當前光學顯微鏡中所使用的UIS2無限遠校正光學係統。因此，觀察到的圖像具有高分辨率和高對比度，此外，像差也被消除，以確保實現對微小細節的高精度測量。

明場圖像

暗場圖像

微分幹涉圖像

偏光圖像

花崗岩精雕細琢而成的載物台基座增強了測量的可靠性

STM7-LF FEM 分析

為(wei) 了進一步保證測量精度，STM7係列采用了一個(ge) 配備花崗岩基座的高度耐用和防振動的鏡架。由於(yu) 花崗岩的高穩定性，使測量可到達亞(ya) 微米水平，同時確保大程度地降低誤差。

作為(wei) 高度測量的先鋒，繼續提供簡單易操作的高精度3軸測量

主動反射，共聚焦自動聚焦係統光路

隨著現代製造技術日益小型化和精密化，高精度測量也日趨重要——不僅(jin) 是XY軸平麵的測量，而且Z軸方向的高精度測量也成為(wei) 必須。奧林巴斯成為(wei) 成功開發了測量顯微鏡用采用主動反射、共聚焦方法的自動聚焦係統的公司，以此響應了這種與(yu) 日俱增的需求。

嚴(yan) 格的可追溯係統確保品質可靠

測量顯微鏡溯源係統

奧林巴斯通過一個(ge) 嚴(yan) 格的可追溯係統控製測量顯微鏡的精確度。 並且在安裝係統時奧林巴斯也提供了可追溯的校準服務。

STM7在設計上非常重視易用性

提供適合您樣品尺寸的載物台

常見問題

短測量行程無法滿足較大樣品的測量需求。

目前為(wei) 止，大型載物台在X軸方向提供了足夠的測量行程，但是Y軸的行程仍然較小。在測量過程中需要通過旋轉樣品來補償(chang) 比X軸覆蓋範圍要短的Y軸行程，這樣的做法費事費時，效率不高。

由於(yu) 可測量的範圍窄，無法將數量較多的樣品排列在載物台上，以實現一次性同時測量。

STM7解決(jue) 方案

共有四種正方形測量行程的載物台可供選用(50 mm x 50 mm, 100 mm x 100�mm, 200 mm x 200 mm, 和300 mm x 300 mm)。 不管是大的樣品還是小的樣品，總有一款載物台會(hui) 適合您要測量的樣品。

采用離合器係統可以在粗調和微調之間實現快速切換。具備了這種切換功能之後，載物台也可以沿著X軸和Y軸方向迅速移動，並且可以在XY平麵上自由穿梭。

300 mm長的方形載物台在X軸和Y軸方向上可以提供相同的測量行程，這意味著可以不旋轉樣品就實現大型樣品的全部測量，比如300 mm的晶圓和印刷電路板。

STM7-CS50
50mm x 50mm

STM7-CS100
100mm x 100mm

STM7-CS200
200 mm x 200 mm

STM7-CS300
300 mm x 300 mm