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PRODUCTS CNTER徠卡精研一體(ti) 機 Leica EM TXP具有定點修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品後,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術檢測。
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徠卡精研一體(ti) 機 Leica EM TXP具有定點修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品後,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術檢測。
帶有一體(ti) 化體(ti) 視鏡,用於(yu) 精確定位及對較細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察;使用樣品旋轉手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調,或者垂直於(yu) 樣品前表麵90°觀察,可利用目鏡刻度標尺測量距離。
一體(ti) 化自動程序控製,包括自動左右製動機製,前進反饋力控製,倒計數功能等,為(wei) 使用者節約大量時間。
表麵處理與(yu) 目標檢測,都通過一體(ti) 化體(ti) 視鏡來完成,用戶不需要專(zhuan) 程將樣品拿出來再進行表麵觀察檢測,這可大大提高使用者的工作效率。
可適配多種多樣工具,從(cong) 而使樣品不經轉移就可以進行研磨,切割,鑽孔,打磨及拋光。並且整個(ge) 處理過程都可通過體(ti) 視鏡進行觀察監控,大大節省時間和費用。