透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量係統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 安裝MEMS工藝製成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。並可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體(ti) 結構、化學組分、元素價(jia) 態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與(yu) 應用領域。

PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品杆

PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品杆，樣采用可伸縮的樣品杆端頭設計，從(cong) 而實現將樣品從(cong) 真空室或手套箱的真空環境下轉移到透射電鏡內(nei) 的目的，避免樣品被大氣環境影響。

樣采用可伸縮的樣品杆端頭設計，從(cong) 而實現將樣品從(cong) 真空室或手套箱的真空環境下轉移到透射電鏡內(nei) 的目的，避免樣品被大氣環境影響。

性能指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 保證電鏡原有分辨率；

● 保證電鏡真空度；

● 可選雙傾(qing) 方案，β方向傾(qing) 轉角為(wei) ±25°，同時受限於(yu) 極靴。

 本係統硬件包括兩(liang) 部分，分別是加熱/電學測量控製器、原位MEMS芯片樣品杆。軟件包括自動控溫軟件和自動電學測量軟件。

性能指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 保證電鏡原有分辨率；

● 保證電鏡真空度；

● 可選雙傾(qing) 方案，β方向傾(qing) 轉角為(wei) ±25°，同時受限於(yu) 極靴。

部分國內(nei) 用戶

部分國外用戶