Sensofar新型高精度3D測量係統S wide

產品簡介

Sensofar新型高精度3D測量係統S wide ，適用於(yu) 快速測量大樣品區域，測量麵積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測量儀(yi) 器的所有優(you) 點。一鍵式采集功能，易於(yu) 使用。

產品型號：

更新時間：2025-03-24

廠商性質：代理商

訪問量：661

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產(chan) 品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

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　　Sensofar新型高精度3D測量係統S wide

　　一、應用領域：

　　主要應用於，大麵積 3D 光學測量係統、先進製造業、考古學與古生物學、消費類電子產品、醫療設備、模塑、光學、鍾表業等行業。

　　二、產品優勢：

　　1.亞微米高度可重複性，可擴展整個區域內

Sensofar新型高精度3D測量係統S wide

　　2. 無需 Z 軸掃描即可測量最高 40mm 的單次測量高度

　　3.具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量

Sensofar新型高精度3D測量係統S wide

　　4.可追溯性：采用ISO 標準

　　Sensofar新型高精度3D測量係統S wide 每一款 S wide 產品都是為提供準確且可追溯的測量結果而製造的。係統根據 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。

　　5.與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測量

Sensofar新型高精度3D測量係統S wide

　　6. 表麵紋理測量儀(yi) 器的校準

　　我們的所有係統精心製造，提供準確、可追溯的測量。係統按照符合ISO 25178第 7 部分關於下列參數的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大係數、XY 橫向尺寸、平麵度誤差以及偏心度。

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