澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡

澤攸ZEM15原位拉伸掃描電鏡基於(yu) 自主研發的台式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品台，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表麵形貌的變化

產(chan) 品介紹

澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發的鎢燈絲(si) 電子槍，加速電壓在1-15kV範圍內(nei) 連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品台，實現掃描電鏡內(nei) 的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

原位拉伸台參數

載荷範圍：0-1000N

位移分辨率：20nm

加熱模塊：可選

加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

電鏡主機特色

僅(jin) 需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等複雜步驟；

亮度/對比度一鍵自適應，自動/手動聚焦;

抽真空時間小於(yu) 90秒；

標配光學導航，搭配多樣品台，實現快速找樣及切換樣品；

信號采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；

四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

國內(nei) 生產(chan) 、銷售、售後一體(ti) 化服務；

北京、上海、安徽、廣東(dong) 常駐工程師並提供設備演示；

應用案例

藥物檢測           生物檢測

半導體(ti) 檢測       電池檢測