PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量係統

澤攸STM-TEM光電一體(ti) 測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸STM-TEM光電一體(ti) 測量係統，是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元，通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量，並可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體(ti) 結構、化學組分、元素價(jia) 態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與(yu) 應用領域。

透射電鏡原位STM-TEM光電一體(ti) 測量係統是在標配的STM-TEM樣品杆上集成光學模塊，從(cong) 而實現在透射電鏡中進行原位光電測量或者光譜學表征研究。

性能指標

透射電鏡指標：

● 兼容指*電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾(qing) 版本，雙傾(qing) 電學測量樣品杆Y軸傾(qing) 角±25°（同時受限於(yu) 極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個(ge) 電流電壓測試單元；

● 電流測量範圍：１ nA-30 mA，9個(ge) 量程；

● 電流分辨率：優(you) 於(yu) 100 fA；

● 電壓輸出範圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標：

● 粗調範圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細調範圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纖指標：

● 光纖外徑250 um，保證電鏡係統真空指標；

● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；

● 可選SMA接頭、FC接頭。

產(chan) 品特色

（1）采用雙向光纖，可應用於(yu) CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究；

（2）光電一體(ti) 化解決(jue) 方案，具有高拓展性；

（3）高穩定性，保證電鏡原有分辨率；

（4）很長的壽命