PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量係統

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量係統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量係統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元，通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量，並可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體(ti) 結構、化學組分、元素價(jia) 態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與(yu) 應用領域。

透射電鏡原位STM-TEM力電一體(ti) 測量係統是在標配STM-TEM樣品杆內(nei) 集成納牛力傳(chuan) 感器，實現高精度的力學及電學測量。

性能指標

透射電鏡指標：

● 兼容指*電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾(qing) 版本，雙傾(qing) 電學測量樣品杆Y軸傾(qing) 角±25°（同時受限於(yu) 極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個(ge) 電流電壓測試單元；

● 電流測量範圍：１ nA-30 mA，9個(ge) 量程；

● 電流分辨率：優(you) 於(yu) 100 fA；

● 電壓輸出範圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標：

● 粗調範圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細調範圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

力學傳(chuan) 感器指標：

● 懸臂梁彈性範圍1 N/m~100 N/m；

● 載荷分辨率優(you) 於(yu) 5 nN（使用1 N/m懸臂梁時）；

● 自動測量力-距離曲線，自動保存。

產(chan) 品特色

（1）可保證電鏡原有分辨率，即使在球差內(nei) 也可以拍到清晰原子像；

（2）良好的操縱穩定性，壓電陶瓷驅動方式，保證高精度的操縱。樣品杆具有很高的穩定性  ，探針移動平穩，實現高分辨原位觀察實驗；

（3）操作簡便，軟件界麵友好易操作。控製器集成電流電壓測試單元，滿足大多數實驗需求。位移粗調和細調全軟件操作；

（4）力電一體(ti) 化解決(jue) 方案，力學和電學配置可滿足大部分測試需求；

（5）很長的壽命