ZEM係列台式掃描電鏡-能譜一體機

ZEM係列台式掃描電鏡-能譜一體(ti) 機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體(ti) 積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環境，隻需找一張桌子，供電即可工作。

ZEM係列台式掃描電鏡-能譜一體(ti) 機采用自主研發的鎢燈絲(si) 電子槍，加速電壓最高20KV可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式Oxford能譜儀(yi) ，同時滿足形貌觀測及元素分析需求。

• 能譜儀(yi) 參數

▲ 集成OxfordXploreCompact30能譜分析係統SuperATW窗口30mm2麵積活區

▲ 分辨率優(you) 於(yu) 129eV（MnKα處）無需液氮冷卻

▲ 分析元素範圍：B5-Cf98

▲ 點、線、麵掃描分析

▲ 全中文軟件操作界麵（中英文切換功能）

• 電鏡主機特色

▲ 真空分隔技術 ：采用獨*真空設計，電子槍和樣品倉(cang) 真空分離，換樣時間小於(yu) 1min。

▲ 超大樣品倉(cang) ：提供了更大的樣品存儲(chu) 空間，方便用戶操作。

▲ 超高分辨率：極限放大倍數達到36萬(wan) 倍，分辨率4nm@20kV。

▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。

▲ 倉(cang) 內(nei) 攝像頭：樣品倉(cang) 內(nei) 置高清攝像頭，原位實驗時可實時監測樣品原位變化。