ZEM係列台式掃描電鏡-原位拉伸一體機

ZEM係列台式掃描電鏡-原位拉伸一體(ti) 機基於(yu) 自主研發的台式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品台，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表麵形貌的變化。

ZEM係列台式掃描電鏡-原位拉伸一體(ti) 機，采用自主研發的鎢燈絲(si) 電子槍，加速電壓最高20KV可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品台，實現掃描電鏡內(nei) 的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

• 原位拉伸台參數

▲載荷範圍：0-1000N

▲位移分辨率：20nm

▲加熱模塊：可選

▲加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

• 電鏡主機特色

▲ 真空分隔技術 ：采用獨*真空設計，電子槍和樣品倉(cang) 真空分離，換樣時間小於(yu) 1min。

▲ 超大樣品倉(cang) ：提供了更大的樣品存儲(chu) 空間，方便用戶操作。

▲ 超高分辨率：極限放大倍數達到36萬(wan) 倍，分辨率4nm@20kV。

▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。

▲ 倉(cang) 內(nei) 攝像頭：樣品倉(cang) 內(nei) 置高清攝像頭，原位實驗時可實時監測樣品原位變化。