澤攸STM-TEM力電一體(ti) 測量係統 是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸STM-TEM光電一體(ti) 測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體(ti) 測量係統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量

澤攸透射電鏡原位高溫力學測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量。

澤攸MEMS-STM-TEM多場測量係統，原位透射電子顯微鏡實驗係統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個(ge) 可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量