PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體(ti) 測量係統，是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元，通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量，並可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體(ti) 結構、化學組分、元素價(jia) 態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與(yu) 應用領域。

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量係統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量係統，是在標配MEMS芯片樣品杆上集成低溫控製模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體(ti) 電化學測量係統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體(ti) 。實驗中，樣品被密封在很薄氮化矽薄膜覆蓋的液體(ti) 池內(nei) ，池內(nei) 可以承載一個(ge) 大氣壓。芯片電極聯通外接電路，從(cong) 而在電鏡中搭建一個(ge) 液體(ti) -電化學測試環境。

澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量係統，在透射電子顯微鏡中製造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量係統是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量