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  • 20247-24
    澤攸探針台:精密納米測量的科技工具

    在納米科學研究和工業(ye) 生產(chan) 中,精密測量技術扮演著至關(guan) 重要的角色。安徽澤攸科技有限公司,作為(wei) 具有全部自主知識產(chan) 權的科學儀(yi) 器公司,其研發的探針台產(chan) 品,尤其是澤攸探針台,成為(wei) 了納米測量領域的先進者。本文將深入探討它的主要功能、技術特點及其在多個(ge) 領域的應用。澤攸探針台,作為(wei) 澤攸科技的重要產(chan) 品線之一,以其高精度、高分辨率和多功能性,在納米材料表征、器件測試及生物細胞操作等領域展現出強大的應用潛力。該探針台采用了先進的掃描探針技術,能夠在微觀尺度下對樣品表麵進行精確測量和操縱,為(wei) 科研人員提...

  • 20247-19
    澤攸台式掃描電鏡使用指南

    在材料科學、生物醫學及納米技術等領域,掃描電鏡(SEM)作為(wei) 重要的分析工具,其應用日益廣泛。澤攸科技推出的台式掃描電鏡,憑借其緊湊的設計、高清晰度的成像及便捷的操作流程,受到了科研人員的青睞。以下將詳細介紹澤攸台式掃描電鏡的使用方法。一、準備工作1.環境準備:確保操作環境相對幹燥、無塵、無震動,以保證掃描效果的穩定和準確。2.樣品準備:樣品表麵需進行導電處理,如金屬噴霧或蒸鍍,以消除電荷積累對成像的影響。同時,樣品表麵應光滑平整,避免劃痕或汙染。3.設備檢查:檢查掃描電鏡各部...

  • 20247-15
    共聚焦白光幹涉儀的結構、原理與操作指南

    一、結構共聚焦白光幹涉儀(yi) (雖然通常直接稱為(wei) 白光幹涉儀(yi) ,但“共聚焦”可能指的是其聚焦和測量過程中的一個(ge) 特性)主要由以下幾個(ge) 關(guan) 鍵係統構成:照明光源係統:通常采用高亮度LED光源,Sensofar采用4色LED光源(紅、綠、藍、白),這一係統負責提供穩定、均勻的光源,用於(yu) 後續的共聚焦、白光幹涉、相位移幹涉和多焦麵疊加測量。光學成像係統:該係統采用無限遠光學成像方式,由顯微物鏡和成像目鏡(或現代設計中可能采用的CCD相機)組成。它負責接收從(cong) 樣品和參考鏡反射回來的光線,並形成清晰的圖像...

  • 20247-4
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀 | 對刀具切削刃的評估

    切削刀具的塑造對最終產(chan) 品的質量非常重要。它能提供刀具切削時的信息,例如能切削的材料總量。更具體(ti) 地說,刀具的切削刃是表征刀具使用壽命、性能以及所需的切削速度和切削精度的關(guan) 鍵特征。切削刃的評估半徑均勻性和邊緣的角度有助於(yu) 理解切削刀具的切削性能。所有這些參數都能通過SensoPRO軟件的Edge模塊自動分析。因為(wei) SENSOFAR傳(chuan) 感器頭有3種光學測量技術,所以針對不同類型的刀削刃,我們(men) 可以選擇最合適的技術去評估。插入式刀削刃高精度的切割微鑽頭鑽頭的刃口刀削刃的分析模塊可以分析刃口的...

  • 20247-4
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀|對用於後端封裝環節

    關(guan) 於(yu) 在半導體(ti) 領域的應用,我們(men) 通常集中在製造過程的後端封裝環節:Sensofar的產(chan) 品可以用來表征關(guan) 鍵尺寸,表征材料的粗糙度,以及進行缺陷檢測等。碳化矽基晶圓由於(yu) 其優(you) 異的熱穩定性與(yu) 特殊的電子傳(chuan) 輸特性,以碳化矽基晶圓為(wei) 基礎的芯片在很多新興(xing) 電子器件比如說5G通訊等領域得到了廣泛應用。在製備碳化矽基集成電路時,通常采用的是化學氣相沉積技術。對其表麵形貌的測量與(yu) 表征對於(yu) 了解其晶體(ti) 生長過程是否均勻很有必要。SensoVIEW可以通過ISO標準規定的各空間,高度,以及混合參數來表征材料的形...

  • 20247-3
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀|對印刷電路板的分析

    根據印刷電路板(PCB)的用途和設計的不同,製造出來的PCB會(hui) 有很大差異。然而,有一些通用元素適用於(yu) 所有的PCB,這些元素對其正確的實現其功能至關(guan) 重要。經過長期的積累,Sensofar的分析軟件針對銅跡線、通孔和焊盤等元素做出了優(you) 化,能更便捷的分析這些特征。DocumentpreviewPCB中的金屬元件在這裏,我們(men) 有一個(ge) 用於(yu) 電器的金屬部件。在製造的每件產(chan) 品中都需要檢查幾個(ge) 關(guan) 鍵尺寸,SensoVIEW靈活的手動選擇的方法適合於(yu) 這種樣品類型的表征。PCB封裝兼容性在完成PCB的...

  • 20247-3
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀|對粗糙度和薄膜厚度的測量

    ****,光學應用是一個(ge) 具有挑戰性的應用:樣品非常光滑、平坦,有時是透明的。隻有**輪廓儀(yi) 才能對其進行成像,並滿足該領域的嚴(yan) 格要求。我們(men) 對透鏡和濾光片的經驗在於(yu) 器件粗糙度、微透鏡陣列和薄膜厚度的測量。微透鏡陣列球麵透鏡球麵透鏡具有更簡單的設計和更低的製造成本,應用範圍廣泛。可以分析尺寸和Sa、Sq和Sz粗糙度參數。非球麵透鏡以其較小的像差而著稱,非球麵透鏡適用於(yu) 光學設計,有極少的元件會(hui) 尋求更好的性能。可以分析曲率半徑,尺寸和10個(ge) 非球麵變形係數以及Sa、Sq和Sz粗糙度參數。...

  • 20247-3
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀|用於集成電路封裝

    QFN引腳****的集成電路封裝類型之一是QFN(Quad-flatNoLead,四扁平無引線)封裝,因為(wei) 它能夠滿足包含消費電子、汽車以及高功率產(chan) 品等在內(nei) 的眾(zhong) 多不同應用中的需求。引腳的平整度是一個(ge) 重要的待評估的元素。使用SensoVIEW的輪廓工具,我們(men) 可以很好的評估它。QFN導熱墊平整度(Sz)對於(yu) 確保焊盤和芯片底部之間的良好連接以實現高性能的散熱至關(guan) 重要。SensoVIEW可以直接進行平整度評估,但為(wei) 了避免測量中由於(yu) 幹擾信號造成的可能出現的尖峰,我們(men) 應用了調平和設置合適的...

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