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  • 20245-24
    光學顯微鏡測量應用

    光學顯微鏡測量應用為(wei) 專(zhuan) 家和入門者量身定製的全套測量解決(jue) 方案無論您是負責行業(ye) 的質量控製還是在實驗室裏研發新型材料,數字顯微鏡係統都是您進行研究的基礎。這樣的顯微鏡係統必須適合從(cong) 新手到專(zhuan) 家的各類人群,能夠提供專(zhuan) 業(ye) 應用模塊並符合內(nei) 部測試規程和新標準。簡而言之,它是一套為(wei) 您量身定製且能滿足您應用需求的解決(jue) 方案。實現微米和納米級研究觀測。交互式測量每次測量的基本參數包括麵積、角度、周長、直徑、重心以及其它許多參數。您需要交互式地確定需要獲得的某種測量參數或測量順序,並讓其按照的順序進行...

  • 20245-24
    光學顯微鏡勘探學和自然資源應用

    光學顯微鏡勘探學和自然資源應用地質學自然資源領域中的商業(ye) 活動基於(yu) 研究地球的地質科學。從(cong) 微體(ti) 古生物學到礦物學研究,顯微鏡的成像與(yu) 分析應用已逾百年。諸如X射線分析和陰極熒光等技術結合了掃描電子顯微鏡(SEM)的優(you) 勢,大大提升了我們(men) 全球客戶的研究實力。可變壓力掃描電子顯微鏡能夠在無需鍍碳的情況下對薄片和拋光核芯進行成像。環境成像可以定位儲(chu) 油層沙石內(nei) 的親(qin) 水部位,與(yu) 離子束技術相結合可觀察頁岩內(nei) 的微空隙結構。礦物辨別大部分岩石樣品由光學各異性材料組成。在光學顯微鏡下用於(yu) 礦物辨別的兩(liang) 個(ge) 最重...

  • 20245-24
    鋰離子電池高電壓正極材料獲係列進展

    鋰離子電池高電壓正極材料獲係列進展北大潘鋒團隊3篇頂刊!鋰離子電池高電壓正極材料獲係列進展鋰離子電池作為(wei) 新一代的綠色儲(chu) 能器件已經被廣泛應用於(yu) 人們(men) 的日常生活當中,從(cong) 移動通訊設備到新能源汽車綠色出行。鈷酸鋰正極由於(yu) 具有高的體(ti) 積能量密度和穩定性,一直占據移動數碼產(chan) 品電池市場。隨著移動通訊設備對電池續航能力的要求越來越高,進一步提升鈷酸鋰的能量密度具有重大產(chan) 業(ye) 需求。在各種可行的措施中,提高充電截止電壓獲取更高的比容量是一種最為(wei) 直接有效的方法,但卻帶來循環穩定性差的問題。圍繞這一難題,...

  • 20245-23
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀|測量原理

    Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |測量原理增強型光學測量技術Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) 雖然一開始作為(wei) 高性能3D米兰竞猜足球官网首页設計,但是我們(men) 的某些係統所有現有的米兰竞猜足球官网首页,集所有技術於(yu) 一身。Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) 條紋投影非常適合大麵積測量,垂直精度和可重複性高,係統噪聲低。產(chan) 品陣容技術組合我們(men) 的Sensofar共聚焦白光儀(yi) 係統采用不同光學測量技術進行工作,一部分係統采用組合技術。聚集這些技術的優(you) 點,外加技術和操作軟件,成就市場上競爭(zheng) 力的高級測量設備。為(wei) 何使用四合一技...

  • 20245-23
    ensofar共聚焦白光幹涉儀 | AI多焦麵疊加技術

    Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |多焦麵疊加主動照明多焦麵疊加是一種為(wei) 了測量粗糙的表麵形狀而開發的光學技術。這項技術基於(yu) Sensofar在共聚焦和幹涉3D測量領域的廣泛專(zhuan) 業(ye) 知識,專(zhuan) 門設計用於(yu) 補充低放大率下的測量BACKGROUNDSensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |多焦麵疊加原理主動照明多焦麵疊加技術利用了明場中存在景深的特點,樣品隻有在的特定z範圍中對焦。景深會(hui) 根據物鏡的數值孔徑或光源波長而變化。Z高度的值是根據圖像的高對比度(清晰度或微小細節)來計算的從(cong) 而得出正確的對焦位置...

  • 20245-23
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀 | 共聚焦技術

    Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |共聚焦技術共聚焦輪廓儀(yi) 專(zhuan) 為(wei) 測量光滑表麵到極粗糙表麵而開發。共聚焦輪廓提供更佳的橫向分辨率,可達0.15μm線條和空間,空間采樣可減少到0.01μm,這是關(guan) 鍵尺寸測量的理想選擇。背景Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |共聚焦技術共聚焦技術能夠測量表麵高度,將常規圖像轉換成光學剖麵,其中,物鏡焦深範圍內(nei) 的那些區域的信號被保留,改善了圖像對比度、橫向分辨率和係統噪聲。光學方案對於(yu) 3D成像,必須從(cong) 相機的所有像素獲取數據。這意味著:重新構建共聚焦圖像。為(wei) ...

  • 20245-23
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀 | 白光幹涉技術

    Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |白光幹涉技術Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) 為(wei) 了測量非常光滑的表麵到中等粗糙表麵的表麵高度,開發了幹涉技術,可在任何放大倍率下實現相同的係統噪聲。對於(yu) PSI,它可實現優(you) 於(yu) 0.01nm的係統噪聲。背景幹涉工作原理幹涉技術的工作原理是:將光分成光學傳(chuan) 播路徑不同的兩(liang) 個(ge) 光束,然後再合並,從(cong) 而產(chan) 生幹涉。幹涉物鏡允許顯微鏡作為(wei) 幹涉儀(yi) 而工作;焦點對準後,可在樣本上觀察到條紋。光學方案PSI的光學方案與(yu) FV具有相同配置,但是現在采用幹涉物鏡而不是明場。為(wei) 了獲...

  • 20245-23
    Sensofar共聚焦白光幹涉儀 | 光譜反射技術

    Sensofar共聚焦白光幹涉儀(yi) |光譜反射技術光譜反射能快速、精確、無損地測量薄膜,且無需製備任何樣本。背景薄膜透明層沉積在表麵上時,其反射率會(hui) 變化。該係統獲取可見範圍內(nei) 樣本的反射光譜,並與(yu) 軟件計算的模擬光譜進行比較,對層厚進行修改,直到找到匹配的厚度。對於(yu) 薄膜,厚度與(yu) 光波長類似,我們(men) 沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應。主要特征從(cong) 50nm到1.5μm厚的透明薄膜可在不到5秒的時間內(nei) 測得從(cong) 50nm到1.5μm厚的透明薄膜不到5秒內(nei) 采集一個(ge) 物鏡可覆蓋整個(ge) 範圍不同光斑大小(3.5μm到...

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