我們(men) 致力於(yu) 與(yu) 您的集成需求一起不斷發展，Smart2我們(men) 很高興(xing) 與(yu) 您分享一些有關(guan) 我們(men) 的Smart2係統令人興(xing) 奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關(guan) 新功能的信息，有一個(ge) 演示該係統在CMP過程的案例研究以及我們(men) 在中國的合作夥(huo) 伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個(ge) 新幹涉物鏡，包括幹涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為(wei) 1.5微米厚...

層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運用於(yu) 電動車的高容量商業(ye) 鋰離子電池正極材料。然而，在循環過程中的結構劣化會(hui) 造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產(chan) 生的層間滑移（planargliding）和晶內(nei) 微裂紋（microcracking）為(wei) 結構劣化的主要表現形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們(men) 熟知的NCM在高電壓區間發生的*有現象，即為(wei) 在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶麵在低電壓區間緩慢膨脹，高壓區間（約4.1V以上）快速縮減從(cong) 而“坍塌”。目前的研究隻知...

偏光顯微鏡作為(wei) 一種特殊的顯微鏡，在科研領域發揮著舉(ju) 足輕重的作用。其重要性不僅(jin) 體(ti) 現在對樣品微觀結構的精細觀察上，還體(ti) 現在對樣品性質的深入分析上。以下將詳細闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與(yu) 優(you) 勢。一、重要作用揭示樣品微觀結構：偏光顯微鏡能夠利用偏光現象增強樣品中的細節和對比度，從(cong) 而清晰地揭示樣品的微觀結構。這對於(yu) 材料科學、地質學、生物學等領域的科研工作者來說至關(guan) 重要，因為(wei) 他們(men) 需要深入了解樣品的內(nei) 部結構以揭示其性質和功能。分析樣品光學性質：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...

在科技日新月異的今天，高精度測量技術已成為(wei) 眾(zhong) 多科研與(yu) 工業(ye) 領域至關(guan) 重要的重要工具。其中，5軸空間3D共聚焦白光幹涉輪廓儀(yi) 以其傑出的性能和廣泛的應用領域，成為(wei) 了精密測量領域中的一顆璀璨明星。這款儀(yi) 器結合了高精度旋轉模塊和先進的3D米兰竞猜足球官网首页技術，實現了在固定位置上的全自動3D表麵測量。其特殊的五軸設計，使得樣品可以在多個(ge) 方向上進行靈活旋轉和定位，從(cong) 而確保了對複雜曲麵和不規則形狀樣品的全表麵精確測量。5軸空間3D共聚焦白光幹涉輪廓儀(yi) 的測量原理基於(yu) 白光幹涉現象。光源發出的光經過擴束準...

蔡司掃描電鏡（SEM）作為(wei) 現代材料科學、生命科學等領域的重要分析工具，其樣品的製樣過程直接關(guan) 係到觀察結果的準確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品製樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確製備樣品，從(cong) 而獲得高質量的微觀圖像。首先，根據樣品的性質（如導電性、硬度等）選擇合適的製樣方法。對於(yu) 導電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導電膠將其固定在樣品台上。而對於(yu) 導電性較差或非導電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表麵進行鍍膜處理，以增加導電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進行樣品的清洗和幹燥。...

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隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機材料和化工產(chan) 品的研發與(yu) 應用正在蓬勃發展。與(yu) 此同時，如何進行高分辨率的微觀表征和實時過程監測，也成為(wei) 相關(guan) 研究的重要課題。在這一領域，掃描電鏡以其獨*的成像與(yu) 分析功能，提供了極*價(jia) 值的解決(jue) 方案。澤攸科技自主研發的ZEM18掃描電鏡實現了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結構。同時，其配備的能譜係統可以分析材料元素組成，研究材料結構與(yu) 性能之間的內(nei) 在關(guan) 係。此外，ZEM18還可進行各種原位測試，實現對化學反應過程的實時、動態監測。這為(wei) 研...

掃描電鏡是一種廣泛應用於(yu) 材料科學、半導體(ti) 工藝等領域的*備工具，它可以通過探測樣品表麵激發出來的電子信號，對物質微觀形貌進行表征。在半導體(ti) 工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應用於(yu) 器件結構的實時檢測和剖麵分析方麵，為(wei) 生產(chan) 和研發提供了其他測試分析儀(yi) 器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現高分辨率的表麵形貌觀測、元素分析、晶體(ti) 結構分析等功能，適用於(yu) 半導體(ti) 材料的表征和分析。我們(men) 的掃描電鏡可以幫助客戶實現器件結構的實時檢測和剖麵分析，提高半導體(ti) 器件的製造質量和性能穩定...